技术编号:13070826
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。光学测量机器及方法本案为名称是“光学测量机器及方法”、申请日为“2013年3月15日”、申请号为“201310084652.3”的专利申请的分案申请。技术领域本发明涉及光学测量机器及方法。背景技术本发明涉及光学仪器的领域,光学仪器用光学电子方法确定各种参数,尤其是,用于测量主要是平面的零件。在现有技术中,公知有许多种光学(光学电子)测量机器,其包括工件支承台,工件支承台由基本上透明的材料制成,并插入在光源和图像探测器之间。这些机器通常包括形成(玻璃质)支承台的固定的安装件,光学电子测量系统可顺着...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。