用于增强局部电场、光吸收、光辐射、材料检测的结构以及用于制作和使用此结构的方法与流程技术资料下载

技术编号:13083032

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分案申请说明本申请是申请日为2011年5月20日、申请号为201180035425.0(国际申请号PCT\/US2011\/037455)、题为“用于增强局部电场、光吸收、光辐射、材料检测的结构以及用于制作和使用此结构的方法”的发明专利申请的分案申请。相关申请的交叉引用本申请涉及Chou等人于2010年5月21日提交的美国临时专利申请序列号61\/347,178,标题为“用于局部电场、光吸收和光辐射的增强的结构”,并要求其优先权,其以引用方式并入本文。有关美国联邦资助的研究的声明本发明是利用美国...
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