技术编号:13108020
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种试验器具,具体涉及一种用于t-EBSD测试的样品夹具。背景技术在扫描电子显微镜(SEM)中,入射于样品上的电子束与样品作用产生几种不同效应,其中之一就是在每一个晶体或晶粒内规则排列的晶格面上产生衍射。从所有原子面上产生的衍射组成“衍射花样”,这可被看成是一张晶体中原子面间的角度关系图。20世纪90年代以来,装配在SEM上的电子背散射花样(ElectronBack-scatteringPatterns,简称EBSP)晶体微区取向和晶体结构的分析技术取得了较大的发展,并已在材料...
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