技术编号：13159740
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明属于电子系统可靠性研究领域，涉及一种电子系统剩余寿命预测的方法。背景技术当前，电子系统剩余寿命预测方法包括，基于失效物理(PhysicsofFailure,PoF)模型、基于寿命标尺以及基于失效征兆等三类。(1)基于失效物理模型的剩余寿命预测方法该方法基于系统及其组成部件的失效物理模型和系统在寿命期内所承受的应力数据，包括温度、湿度、振动、冲击、辐射、压力等，来评估系统的退化趋势和剩余寿命。基于失效物理模型的预测方法能够深入理解研究对象的本质，是对电子系统进行寿命预测的理想方法，具...
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