技术编号：13234149
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。用于校准光学安排的方法相关申请的交叉引用本申请要求在2016年6月13日向德国专利与商标局提交的德国专利申请102016110802.2的巴黎公约优先权。所述优先权申请的全部内容通过援引并入本文。背景技术本发明涉及用于校准包括相机和投影仪的光学安排的方法。本发明进一步涉及具有此类光学安排并且实施所述校准方法的坐标测量机器。DE19536297A1中披露了上述类型的方法。使用投影仪来将预定图案投影到例如位于校准板的投影区域上。投影区域或所述校准板是提前引入测量体积中的。然后，针对投影图案中的图案点...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。