技术编号:13246493
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及集成电路测试技术领域,特别是涉及一种用于测试集成电路漏电的简易装置。背景技术随着电子技术的发展,集成电路越来越多的得到广泛的应用,但是在实际生产过程中,并不是所有的集成电路都是合格的,有的集成电路存在漏电的问题,若集成电路存在漏电的问题,则该集成电路是不合格的,不能投入使用,因此对集成电路是否漏电进行测试是十分必要的。目前,人们使用的集成电路漏电测试的方法为,采用试电笔对集成电路的表面进行测试。但是现有技术对电位的分析是需要一定时间的,另外,若集成电路的表面积比较大时候,采用试电笔...
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