技术编号：13511619
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及带电粒子能谱测量领域，具体是一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法。背景技术磁谱仪是利用带电粒子在磁场中偏转半径随能量(指动能)变化的特点，测量带电粒子能谱分布的一种仪器。现有的磁谱仪通常如图1所示，由永磁铁6、导磁体中框2和封板1在磁谱仪内部形成均匀封闭的磁场区域，探测介质7固定在一块底拖上，通过底拖把探测介质送入到磁场的特定位置。磁谱仪通过准直孔5对准发射源，带电粒子经过注入孔3进入均匀磁场区域，受磁场洛伦兹力影响，做圆周运动，不同能量的带电粒子的偏转半径不同，则会沉积...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。