技术编号:13574138
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本发明涉及一种检测电路,特别涉及一种用于检测高压对低压的绝缘电阻阻值的检测电路及检测方法。
背景技术
现有的绝缘电阻的检测大多使用带隔离的采样模块对绝缘电阻进行采样,隔离过程中,隔离器件带来的EMI影响较大。有些采用低精度的AD采样芯片对其进行采样,这样会造成检测精度低;有些又或采用电阻桥单点采样方式,这样的检测方式,计算过程复杂,单片机计算过程中负载率过大,检测的结果稳定性差,容易受外部信号干扰;或采用假设绝缘失效的方式进行采样检测,这样又会...
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