技术编号:13574141
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及材料测量技术领域,尤其涉及一种低损低介电材料的测量方法及测量系统。
背景技术
目前材料的介电系数和磁导率的测量主要有三种测量方法,电容法,传输线法,谐振腔法。电容法适用于测量较低的频段,例如100kHz~30MHz;谐振腔法适用于高频,但是是点频测量;传输线法适用于很宽的频段从1MHz至毫米波段,因此测量固体材料宽频特性普遍采用传输线法。经典的传输线法是基于网络分析仪测量材料的正向传输系数S21、反向传输系数S12注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。