技术编号：13637498
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电子测试技术领域，尤其是一种适用于诸如半导体封装检测及手机模组检测等诸多电子测试领域的精密测试探针。
背景技术
随着半导体封装制作工艺及封装技术的快速及多元化发展，针对晶元等半导体元件进行测试的特殊需求也日益增加。以对晶元测试为例，一般是将测试机台、测试治具与被测晶元构成测试回路，将探针治具上的探针直接与晶元上的信号引脚接触，以引出芯片信号并将此芯片信号数据送往测试机台进行分析与判断；从而预先滤除电性与功能不良的芯片，以降低产品的不良率。
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