技术编号:13699491
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及半导体设备的测试容易化和调试容易化技术,例如涉及应用于液晶驱动器等半导体设备而有效的技术。背景技术作为记载了针对半导体设备的测试容易化和调试容易化技术的文献的例子,存在记载了根据JTAG(JointEuropeanTestActionGroup,欧洲联合测试行动小组)输入输出内部的调试信息的液晶控制器的专利文献1。此外,在专利文献2中,关于依照针对TAP(TestAccessPort,测试访问端口)控制器的初始设定来执行边界扫描并从调试用端子输出由CPU、其他处理电路所需要的内...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。