一种抗闩锁IGBT器件的制作方法技术资料下载

技术编号:13744741

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本发明涉及一种半导体器件,尤其是一种抗闩锁IGBT器件,属于IGBT器件的技术领域。

背景技术

IGBT器件内存在寄生的晶闸管,即NPNP结构。在器件正常工作的过程中,不希望开通所述寄生的晶闸管。若所述寄生晶闸管处于开通状态,那么IGBT器件的栅极将失去对电流的控制。然而,在IGBT工作过程中,如果流过源极下方的空穴电流太大,那么源极和基区的PN结就会正偏,即源极开始向基区注入电子,基区开始向源极注入空穴,此时寄生的晶闸管导通,即IGBT器件处于闩锁状态。

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