技术编号：13758412
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学系统加工检测的技术领域，具体涉及一种离轴三反非球面光学系统共基准检测与加工方法。
背景技术
在光学系统中，使用非球面可以矫正像差，改善像质，同时可以简化系统结构，减轻系统的重量，因此，非球面元件正越来越多的被用于深空探测、光电跟踪、天文观测等诸多光电设备中。尤其在空间光学领域，由于离轴三反消像散非球面系统(TMA)具有组较少、长焦距、大视场、宽波段、调制传递函数高、抑制杂光能力强等优异特性，使得大口径非球面元件在空间遥感中得到了广泛应用。
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