技术编号:13767172
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于放射性测量技术领域,具体涉及一种用于大面积放射源均匀性测量的系统与方法。
背景技术
现有的用于大面积放射源均匀性测量的系统和方法有以下两种:
一种是检定规程《JJG788-92α、β标准平面源》中给出的对于150cm2<\/sup>大面积源的均匀性测量推荐方法,其是采用孔半径为1.36cm、面积为6cm2<\/sup>的带窗模板共三块,每块模板只开一个孔,三块模板的开孔位置不同,最终测量的孔位在活性区的对角线上均匀分布。测量...
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