技术编号:13888275
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及天线近场测试技术领域,尤其涉及用于诊断天线阵口径幅相场的畸变位置的方法。背景技术近年来,阵列天线尤其是相控阵天线技术得到了较快的发展,在各种军用和民用无线电系统中得到了广泛的应用。目前,国内阵列天线尤其是相控阵天线的研制任务十分繁重,但由于加工制造等原因,天线在实际设计中有大量不可避免的误差,另外阵列的振动、天线单元间的耦合、有源器件的老化及其温度特性的变化等都会给天线引入不可预见的误差或造成失效单元,这就需要对雷达天线的幅相进行诊断和调试,以确定天线各辐射单元上电流的幅相分布情况。目...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。