技术编号：13908460
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开总体上涉及电子器件，更具体地，涉及用于应力(stress)泄漏测量的测试电路。背景技术电子器件遍布于从计算机到汽车的许多应用中。通常，电子器件具有指定的寿命并且预期在该时间内不会出故障。制造缺陷可能会使电子器件偏离预期的性能或在电子器件的寿命期间的任意时间点处出故障。因此，通常在将电子器件运送给客户之前对电子器件进行测试以确保电子器件在由其规格说明设定的界限内运行。缺陷可以被分类为内在缺陷或外在缺陷。外在缺陷是直接反映在电子器件的性能中的缺陷，并且通常在生产测试期间通过测量电子器件的性能并...
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