技术编号：14007046
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种经常用于研究、生产和测试实验室中的分析天平。背景技术根据显示的称量结果(单元为克)的小数位的个数，分析天平领域可被划分成：具有四个小数位的宏观分析天平(d＝0.0001g)，具有五个小数位的半微量分析天平(d＝0.00001g)，具有六个小数位的微量分析天平(d＝0.000001g)，以及具有七个小数位的超微量分析天平(d＝0.0000001g)，其中，d表示重量显示装置的数字递增量。在一种典型构造中，分析天平自身呈现为位于工作台上供操作的一单元，其具有位于封闭的透明称量室内的称量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。