技术编号：14079084
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于将光学机构重新聚焦的方法和装置。背景技术为了准确地指示待加工工件的点，在工业加工中使用这样的一些光学机构，其利用了来源于光源的具有时间上超短(也就是说，在飞秒或皮秒量级)的脉冲的光束。在所谓的“时间解析”(特别是“泵浦探测”类型的)光学机构中，使用时间上超短的激光脉冲来光学地激励样本，并检测其在现象产生之前、期间、和之后的状态。其可能涉及激励金属或半导体中的电荷载流子、增加热、或甚至生成声学脉冲。泵浦探测机构使得有可能学习非常快速的现象，例如物质中电子的动态、小规模的热扩散、或...
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