技术编号：14097526
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。2016年9月29日提交的日本专利申请No.2016-190630的公开内容(包括说明书、附图和摘要)通过引用整体并入本文。技术领域本发明涉及半导体装置和诊断半导体装置的方法，具体涉及半导体装置和诊断包括非易失性存储器的自诊断功能的半导体装置的方法。背景技术例如，日本未审查专利申请公开No.2008-159149公开了一种包括用于高速测试只读存储器(ROM)的测试电路的系统LSI。测试电路将由地址产生电路产生的测试地址输入到ROM中，并且在多输入签名寄存器(MISR)中对对应于输入地址的从ROM...
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