技术编号：14123299
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及天线设计领域，特别是一种圆极化探头天线结构。背景技术探头天线主要应用于无线产品的测试场地中，比如近场测试系统，用于标校待测天线的性能，包括增益、近场幅度和相位、方向图、副瓣电平、极化纯度等性能。近场测试中通常要求探头天线尺寸小、增益高、安装方便等特性，常规的探头天线很难同时满足上述要求。发明内容本发明的发明目的在于针对近场测试特殊要求，提供一种使用方便、安装简单、成本较低、增益高的小型化圆极化探头天线。为了实现上述目的，本发明采用的技术方案为：一种圆极化探头天线结构，包括：馈电部，所述...
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