技术编号：14124152
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及射频测试技术领域，特别是涉及一种检测线损的方法和测试系统、上位机、计算机可读存储介质。背景技术随着目前无线射频通信使用越来越普遍，射频技术行业发展越来越快。射频相关产品的研发、测试以及生产都需要用到射频测试设备(例如综合测试仪)对移动终端的射频功能进行相关测试或调试(例如，采用蜂窝技术的2G、3G、4G以及采用非蜂窝的WIFI、BT、NFC和GPS等进行测试或调试)，但是进行测试和调试前都需要对射频测试设备以及待测线路(例如，射频线缆)的线损进行测试和校准补偿才能保证对终端设备的测试和...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。