技术编号：1417602
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于一种。背景技术如图1所示，在公知的发光二极管点测程序中，探针在使用一段时间之后往往会 在其表面上残留灰尘或污染物等微粒，这些微粒可能会影响点测的可靠度。因此，操作者必 须定期将探针拆下并利用人工进行清洁，此种人工清洁方式虽然可使探针恢复清洁，但必 须是在此点测设备停机的情况下才可进行，再者由于此人工清洁方式相当耗费时间，所以 势必会降低产能。如TW200935063揭露一种探针清洁装置，其是利用毛刷来进行探针清洁 作业，然而，毛刷清针的方向只会...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。