技术编号:14187323
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请要求2016年10月6日提交的第10-2016-0129364号的韩国申请的优先权,该韩国申请如在本文中充分地阐述地通过引用全部合并于此。技术领域本公开的实施例涉及测试单元阵列的方法,更具体地,涉及测试单元阵列的方法及执行其的半导体器件。背景技术近来,已经使用在每个时钟周期时间期间接收和输出四比特位数据或八比特位数据的DDR2方案或DDR3方案,以提高半导体器件的操作速度。随着半导体器件的数据传输速度变得更快,在数据传输期间可能发生错误的概率增加。因此,提出了新的设计方案以提高数据传输的可...
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