技术编号:14247795
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种工业用X射线检查装置,特别地,涉及管理进行X射线检查的电子部件的照射量的技术。背景技术已知具有如下工业用X射线检查装置,其向检查对象物照射X射线,并使用其透射图像或CT图像检测工业制品的不良或缺陷。这样的X射线检查装置具有能够以非破坏的方式检查从外观难以识别的部位、对象物内部的状态的优点,例如,被应用于表面安装基板的接合不良的检查、部件内部裂纹或模具不良的检查、电子设备的全数检查等各种检查。即使是电子设备等工业制品,当照射量超过容许限度时也有性能劣化或发生故障的可能性。因此,对于制...
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