技术编号:14251903
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一般而言,本发明涉及物位测量。特别地,本发明涉及用于(例如被构造为填充物位雷达天线和/或线扫描器的)雷达天线的波导耦合结构。本发明还涉及具有相应的波导耦合结构的填充物位雷达天线和具有填充物位雷达天线的填充物位测量装置。背景技术具有填充物位雷达天线的填充物位测量装置尤其可用于检测例如松散材料或移动流体的填充材料表面的表面拓扑。在此情况下,使用测量波束不断地扫描填充材料的表面,并因而确定表面拓扑。例如可以使用由大量的辐射元件制成的被称为线扫描器的一维阵列来控制测量波束,其中,该阵列允许对填充材料表面...
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