技术编号:14267866
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种信号解调系统。背景技术线偏振光通过某些双折射晶体时振动面发生旋转的现象称为旋光现象,通过对旋光角的测量可以实现对样品的纯度、浓度、结构及成分等的分析。目前旋光角的测量大多通过旋光仪来实现,如上海精科的SGW-1 型自动旋光仪、上海仪迈IP120-digi4 数字平台旋光仪、美国PerkinElmer 公司的341\/343 型自动精密旋光仪,仅能满足精度要求不高的常规应用领域。2015 年我们首次提出了一种基于弹光调制PEM的高精度旋光角测量方法,该方法具有灵敏度高、精度高、稳定性...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。