技术编号：14357924
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于液晶面板的自动化缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于 弥散斑锐度的点缺陷面积检测方法。背景技术作为平板显示器的主流器件，LCD(liquid Crystal Display，液晶显示器) 被广泛应用于电脑、手机、相机、仪表等领域。LCD制作过程极其复杂， 工艺要求高，在制作过程中容易产生点缺陷、线缺陷、Mura缺陷，其中点 缺陷最为严重。点缺陷是指LCD的子像素不能正常工作造成部分区域显示 不良的问题。目前业界把点缺陷划分为亮点、暗点、坏点，亮点是指在黑 屏的情况下呈现红、绿、蓝的色点，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。