技术编号：14379914
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电磁场抗扰度测试设备技术领域，特别是涉及场均匀性校准支架。背景技术辐射电磁场抗扰度测试的目的是为了评估电子电气产品在强辐射干扰环境下的是否能正常工作，测试之前会用一个场强探头放在被测物所在位置，进行辐射场强的强度校准，但由于被测物大小不一，为了让较大的被测物整个平面接收到的干扰强度一致，国际标准便定义了一个垂直于地面的1.5m×1.5m的均匀场区域，该均匀场区域包含16个测试点，16个测试点的排列方式为4(行)×4(列)，相邻的点间隔0.5m。校准时，将场强探头分别放置于16个测试...
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