技术编号：14473144
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请要求了提交于2013年9月13日，名称为“运用二维试验和对照信号读出模式的侧向层析检测”的美国临时申请61/877,852的优先权。在某些方面，本申请与名称为“运用二维特征的侧向层析检测”的美国专利8,486,717，提交于2012年1月17日、名称为“运用二维特征的侧向层析检测”的国际申请PCT/US2012/021586，提交于2013年3月13日、名称为“运用二维特征的侧向层析检测”的美国申请13/802,036，以及提交于2013年7月17日、名称为“运用二维特征的侧向层析检测”的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。