技术编号：14509746
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及硅锭质量检测技术领域，更具体的说，涉及一种硅块的少子寿命检测方法。背景技术目前，铸造多晶硅锭的检测中，硅锭切割后的硅块少子检测是很重要的环节，少子的寿命大小通常表征了硅块的电学性能，少子的寿命低的硅块切割成硅片后，制作的太阳能电池的转换效率较低，难以满足电能转换标准。太阳能电池所用的电池片是在铸锭炉中制备的硅锭制备而成。在进行少子寿命检测时，首先根据所需制备的电池片的尺寸将所述硅锭进行切割形成多个体积较小的硅块，然后对各个硅块进行少子寿命检测。现有技术进行少子寿命检测时，检测过程复杂，...
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