技术编号:14518554
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及恒定电压发生装置及测定装置。背景技术已知入射到晶体管等半导体元件的辐射线对半导体元件的工作带来影响(例如,参照专利文献1)。此外,已知使用了半导体元件的恒定电压发生装置。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2013-85272号公报发明内容技术问题在像核电站等那样可能存在比自然辐射强的辐射的环境中,有时恒定电压发生装置的输出电压会发生变动。技术方案在本发明的第一形态中,提供一种具备串联连接的多个恒定电压电路的恒定电压发生装置。各个恒定电压电路可以具有:正侧电源节点;负侧电源节点;以...
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