技术编号：14552819
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及玻璃基板生产检测技术领域，具体地，涉及一种颗粒检测设备辅助装置和颗粒检测系统。背景技术玻璃基板深加工时，需要进行颗粒检测，颗粒检测大多为光源透射原理，其检测设备通常由光源和光源处理装置构成，具体工作原理为：光源透射玻璃基板时，如玻璃基板上有颗粒异物，光源会产生反射进入颗粒检测摄像头；如玻璃基板上无颗粒异物，光源会直接透射过玻璃基板照射到光源处理装置中，使光不会反射，与有颗粒异物反射进入摄像头进行区别，以便检测设备能够正确区分玻璃基板表面颗粒异物的大小及位置。光源处理装置也称为颗粒检测辅...
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