技术编号：14650607
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明大体上涉及集成电路测试，且更具体地说，涉及测试大规模集成电路中的嵌入式存储器。背景技术不管通用还是针对特定端应用程序布置，许多现代电子集成电路基本上都集成了计算机系统的所有必需的功能组件。包含用于控制并管理广泛范围的功能和有用的应用程序的计算能力的那些大规模集成电路常常被称作“芯片上系统(system on a chip)”或“SoC”装置。典型的现代SoC架构包含执行以下数字计算机功能的一或多个处理器“核心”：从存储器检索可执行指令、对从存储器检索的数字数据执行算术和逻辑运算、和存储那些...
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