技术编号:14651796
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开一般涉及用于抑制电源噪声的去耦电容器电路设计,所述去耦电容器电路设计提供高工作频率和高面积效率。背景技术去耦电容器(DCAP)是用于超大规模集成电路(VLSI)设计的配电网络(PDN)的重要部件。这些去耦电容器通过电容器来减少由有源电路元件引起的电源噪声,由此抑制电路中将变为活动的其他元件所察觉到的电源噪声。对于DCAP设计而言有几个考虑因素是很重要的,包括高面积效率、稳健的电性能以及适当的目标工作频率。然而,一些DCAP设计容易受到静电放电(ESD)事件的损害,特别是当晶体管设计进入到超...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。