技术编号：14653085
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及软X射线辐射流测量领域，具体而言，涉及一种平响应滤片安装装置及平响应X射线探测器。背景技术在激光聚变领域，当高功率短波长激光与高Z材料靶等离子体相互作用时，被等离子体吸收的激光有相当部分转换成软X射线。尤其在间接驱动惯性约束聚变研究中，软X射线是驱动靶丸内爆的直接能源。X射线辐射流与辐射温度是黑腔辐射源最重要的特征物理量，是了解激光腔靶耦合物理过程以及辐射源应用实验设计的基础。目前平响应X射线探测器(FXRD)是直接测量黑腔辐射温度与辐射流的重要设备，而且能够给出X射线辐射温度时间演化...
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