技术编号：14656505
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明实施例涉及存储芯片检测技术，尤其涉及一种存储芯片性能的测试方法和装置。背景技术存储芯片是目前各种数据处理设备中常用的存储工具，其写入性能往往是人们直接关注的。存储芯片的老化性能，随着存储芯片的长期使用，也逐渐成为人们关注的热点。但是现有技术还不存在对存储芯片老化性能的测试方法。发明内容本发明实施例提供一种存储芯片性能的测试方法和装置，以对存储芯片的老化性能进行有效测试。第一方面，本发明实施例提供了一种存储芯片性能的测试方法，包括：向待测试存储芯片执行设定数量的全盘写入和读取操作；在全盘写入...
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