技术编号：14718276
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及激光与物质相互作用的等离子体电子密度测量技术领域，具体是一种利用相位恢复算法实现激光等离子体电子密度测量装置及测量方法。技术背景高强度激光照射到金属表面时，会造成各种不同性质的损伤，同时在金属和空气界面激发等离子体。等离子体的光学探针诊断，是基于光在等离子体中传播时，如同在一种折射率连续变化的介质中传播，其折射率为(1-Ne/Nc)1/2，其中Ne是电子密度，Nc是该波长下的临界密度。测出光经过等离子体后的光程变化情况后，在假定等离子体密度为柱对称的情况下，可以用阿贝尔变换来处理光程差...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。