技术编号：14722534
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及窄线宽半导体激光器线宽的测试系统，属于半导体光电子技术领域，具体涉及一种852nm窄线宽半导体激光器的线宽测试系统。背景技术窄线宽半导体激光器因其线宽窄、噪声低、抗电磁干扰强等性能，广泛应用于光纤传感、石油勘探、管道监控、激光雷达和海底通信以及其他高精度光谱测量领域。其中852nm窄线宽半导体激光器主要应用于铯原子频谱、短程通信等领域，对激光器的线宽要求越来越高。频带宽度是光源单色性的量度，单色性越好，相干时间越长。因此，精确测量这些激光器的线宽对于评价单频激光器的性能很有必要。光谱线...
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