技术编号:14725366
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于寄存器文件存储阵列写单元的抗辐照设计领域,特别涉及一种抗单粒子翻转SEU(Single Event Upset)的寄存器文件存储阵列写单元。背景技术随着数字集成电路的发展和应用,集成电路的规模越来越大,复杂度愈来愈高,芯片的可靠性设计显得尤为重要。特别当某些特殊芯片的工作环境存在大量辐射时,电路设计的抗辐照加固成为必然的考虑因素,而寄存器文件作为CPU内核核心部件单元,其抗辐照功能的实现更是亟待解决。单粒子翻转SEU(Single Event Upset)是FPGA中的一种容错技术。当...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。