技术编号:14725517
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于材料的半金属材料检测技术领域,尤其与一种判断Co基哈斯勒合金材料半金属属性的方法有关。背景技术半金属材料在磁电子器件,以及自旋注入半导体等自旋电子学领域有着广阔的应用前景,引起广大科技工作者的广泛关注。为了揭示一种材料是否具有半金属性,实验上通常采用制作电流垂直于膜面的巨磁电阻(CPP-GMR),磁隧道结(MTJs),自旋阀(non-local spin-valve)等纳米结构的器件或者制作点接触的安德鲁反射(point contact Andreev reflection)样品。Y....
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