技术编号:14744360
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及工件探伤装置技术领域,具体为一种便于使用的探伤装置。背景技术探伤检测的方法包括X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤、γ射线探伤、萤光探伤、着色探伤等,其中γ射线探伤通过γ射线机发射γ射线穿透需要检测的工件进行检测,传统探伤装置不能对被检测工件的被检测部位进行精确控制。实用新型内容针对上述问题,本实用新型提供了一种便于使用的探伤装置,其能对被检测工件的检测位置进行精确控制。其技术方案是这样的:一种便于使用的探伤装置,其包括操作台,所述操作台上同一直线上安装有两个支架...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。