技术编号:14784764
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电荷测量技术领域,特别涉及一种测量复杂绝缘结构表面电位的静电探头控制机构及方法。背景技术随着直流输电技术发展,直流气体绝缘组合电器(GIS)由于占地面积小、系统运可靠性高,运维成本小等优点受到越来越多的关注。但是由于直流条件下GIS绝缘子表面会大量积聚电荷造成绝缘子周围电场畸变,从而导致其沿面耐受能力下降。测量绝缘子表面电荷的分布及量级有助于厘清电荷积聚的机理,从而为绝缘子表面电荷抑制及绝缘子形状优化提供理论支撑。发明内容基于此,在现有的技术条件下提供一种测量复杂绝缘结构表面电位的静电...
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