技术编号:14832545
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于测量仪器技术领域,具体讲就是涉及自身能调节、修正同轴性的同轴双曲率厚度测量装置。背景技术弹簧片是电子天平的关键零件,对电子天平的性能其决定作用。如附图1所示,需要对弹簧片的成型部位双曲率厚度进行测量,以判定弹簧片的零件质量是否合格。目前常用同轴双曲率厚度测量装置对弹簧片的成型部位双曲率厚度进行测量,以判定弹簧片的零件质量是否合格。如附图2所示,现有的双曲率厚度测量装置测量的可靠性不能保证。其原因是如附图3所示,随着测量装置使用时间的推移,上探头和下探头会产生磨损、偏移现象导致同轴性不良...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。