技术编号:14847322
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种FDD-LTE基站非中心频率电磁辐射预测方法。背景技术目前关于长期演进频分双工技术(FDD-LTE)基站的电磁辐射研究,文献《In situ LTE exposure of the general public:Characterization and extrapolation》(Joseph W,Verloock L,Goeminne F,et al.In situ LTE exposure of the general public:Characterization and ...
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