技术编号：14858442
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测量技术领域，特别涉及一种表面温度和发射率的测量装置和测量方法。背景技术利用辐射测温仪测量表面温度时，表面温度的测量受发射率影响，一直是计量测试领域的一个没有解决的难题。现有技术中广泛使用的各种辐射测温仪均是在实验室标准计量器具——黑体辐射源(发射率≈1)条件下标定的。在测量时，根据辐射信号和标定方程即可获得测量温度T。然而，实际物体的发射率小于1，测量时获得的只是亮度温度，并不是真实的表面温度。实际物体的发射率是复杂的、不能确定的，与物体的组份、表面状态、波长和温度有关。所以只有知道...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。