技术编号:14875363
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于电路板老化检测装置,特别是一种双工位老化检测装置。背景技术规模化批量生产电路板时,电路板在完成元器件焊接和电路检测后,还需要进行时效老化处理,时效老化处理之后进行老化后检测,检出那些经不起时效老化考验的不合格的电路板,将合格的电路板包装入库或出厂;对于老化后检测不合格的电路板,返回,将损坏的元器件检出予以更换,之后,再次进行时效老化处理,再次进行老化后检测,直至合格。现有的老化检测均采用老化测试箱,在老化测试箱内设置加热元件,经过加热处理后进行人工在进行观察检测,效率低。实用新型内...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。