技术编号：14896818
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体集成电路测试领域，且特别涉及一种改进的伪四线测试方法及其测试结构。背景技术当今集成电路产业飞速发展，集成电路种类越来越多，而数字集成电路在其中占据了很大的份额。数字集成电路功能繁多，管脚数各异，速度千差万别。数字集成电路产业的发展为我们追求的数字化生活奠定了坚实的基础，大量的芯片被生产出来，由于芯片在设计制造封装使用过程中都有可能出现故障，因而要对其进行测试。数字集成电路测试包含功能测试、直流参数测试和交流参数测试，测试速度是测试仪最重要的指标之一。在三种测试中功能测试是基础，另...
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