技术编号：14936635
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及核探测技术领域，特别涉及高纯锗探测器。背景技术高纯锗探测器是一种利用杂质浓度在109cm-3至1010cm-3范围内的锗单晶制成的半导体探测器，主要用于γ射线和X射线测量。这一类型的探测器具有极高的能量分辨率和相对较高的探测效率，被广泛地应用于环保、核电、生物医学、卫生疾控、军队防化以及科研等多个领域。高纯锗探测器的探测效率一般用相对探测器效率来表示，其定义为：60Co点源放置在探测器端面正上方25cm处，对1.33MeV能量峰，高纯锗探测器计数率与3″×3″NaI(T1)探测器计...
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