技术编号:14943303
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子部件输送装置及电子部件检查装置。背景技术以往,已知输送例如IC器件等的电子部件、并检查该电子部件的电特性的电子部件检查装置。在这样的电子部件检查装置中,装入有用于将IC器件输送至检查部的保持部的电子部件输送装置。在检查IC器件时,将IC器件配置于保持部,并使设置于保持部的多个探针与IC器件的各端子接触。所述电子部件输送装置具有以下等部件:均温板,事前加热或冷却IC器件,从而将IC器件调整至适于检查的温度;供给梭,将由均温板温度调整过的IC器件输送至检查部附近;第一器件输送头,进行配...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。