技术编号：14949239
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及高功率激光器测量领域，具体涉及校正高功率激光器M2测量系 统热形变的装置及方法。背景技术近年来激光技术不断进步，高功率激光器发展迅猛，并迅速应用于工业和军 事等领域。在制造工业中，它可以作为高强度光源，用于切割、打孔、焊接等。 在军事领域可用于车载、舰载激光武器，也可作为激光武器的信标光源，并且在 光电对抗、激光制导和激光诱导核聚变等领域也有广泛应用。为衡量激光光束优 劣，要对激光光束质量进行评价，用以指导激光器生产和提供应用参考。针对不 同的激光应用，历史上科学家提出了各种各样的评价...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。